九州産業大学 · 理工学部

研究キーワード光励起電流法を用いたデバイスの劣化に関する研究・デバイスの高性能化に関する研究

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• Suppression of PBTI of SiC-MOSFETs Under 100 kHz Gate-Switching Operation by Using a Gate Off-Voltage of -5 V 2018/06/052018 · 論文
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