九州大学 · 総合理工学府・総合理工学研究院 · 教授

研究キーワードパワーエレクトロニクス・パワー半導体・熱抵抗・劣化診断・SiC

研究分野パワー半導体デバイス

ここは公開データのプレビューです。個別の適合理由、連絡角度、保存機能はログイン後に利用できます。

• Optimization of thermal field on PVT method of 8-inch SiC crystal growth by numerical simulation2026 · Journal of Crystal Growth 681 2026年4月 （ ISSN: 00220248 eISSN: 1873-5002 ）
• A new online monitoring method to detect thermal resistance via turbo sampling of plateau voltage2026 · Microelectronics Reliability 181 116130 2026年6月
• Effect of the location of voids in solder joints on the power cycling lifetime of power semiconductor packages2026 · Power Electronic Devices and Components 14 100142 2026年3月
• Detection of Wire Lift-off in Si-IGBTs and SiC-MOSFETs Using Machine Learning on Switching Waveforms2026 · IEEE Open Journal of Power Electronics 7 907 - 927 2026年2月

• 東芝インフラシステムズ学術奨励制度2025 · 2025年
• 東芝デバイス＆ストレージ学術奨励制度2025 · 2025年
• 脱炭素とパワーエレクトロニクスのDXを実現する劣化検出技術2024 · 研究課題/領域番号： 120243506 2024年4月 - 2026年3月
• パワー半導体をDX化するデジタルゲートプラットフォームの創生2024 · 研究課題/領域番号： 24-241042895 2024年12月 - 2030年3月

• 公式プロフィール