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研究キーワード高信頼性設計・Test・故障診断・テスト容易化設計・テスト・Design for Testability・Fault Diagnosis・High-Reliability Design・LSI

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• SASL-JTAG+: An Enhanced Lightweight and Secure JTAG Authentication Mechanism for IoT Systems with Diverse Devices2025 · Journal of Communications ( Engineering and Technology Publishing ) 20 ( 2 ) 214 - 220 2025年04月
• 2023-April2023 · 論文
• 第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 入門編（改訂版）2020 · 日経BPコンサルティング 2020年12月 （ ISBN: 978-4864431361 ）
• Dual-interlocked-storage-cell-based double-node-upset self-recoverable flip-flop design for safety-critical applications2020 · Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2020-October 2020年01月

• 2024年度 長期インターンシップ2024
• 2024年度 高信頼LSI設計2024
• 2024年度 情報通信工学実験Ⅲ2024
• 2024年度 離散数学Ⅰ2024

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