大分大学 · 理工学部 · 教授

研究キーワードVLSI設計技術・IoT応用・VLSIテスト技術・VLSI設計自動化(CAD)・電子設計自動化(EDA)

ここは公開データのプレビューです。個別の適合理由、連絡角度、保存機能はログイン後に利用できます。

• その他 非同期式プロセッサにおける可変遅延素子を用いたフィールドテスト機構 信学技法 125 (352),43-48頁 2026/022026 · MISC
• 論文 IoT-Enabled Sake Brewing Data Management IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan 2025/072025 · 論文
• その他 FPGAの特定用途構成における劣化検知のための自己テスト 信学技報 125,24-29頁 2025/122025 · MISC
• 論文 IC Seating Inspection Using Laser Reflection Imaging and PaDiM IEEE Global Conference on Consumer Electronics 2025/092025 · 論文

• 2023/04/01 ～ 2026/03/31 プロセッサの命令レベル自己劣化検知機構とテストプログラム自動生成に関する研究 基盤研究(C)2023 · 研究課題・受託研究・科研費
• 2018/07 ～ 2023/03 フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全 基盤研究(B)2018 · 研究課題・受託研究・科研費
• 2018/04 ～ 2024/03 IoT時代の再構成可能集積回路に対する高信頼化に関する研究 基盤研究(C)2018 · 研究課題・受託研究・科研費
• 2016/04/01 ～ 2019/03/31 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 基盤研究(C)2016 · 研究課題・受託研究・科研費

• 公式プロフィール
• ORCID