横浜国立大学 · 環境情報研究院 · 准教授

研究关键词イオンビーム・環境計測化学・二次イオン質量分析法

以下为公开数据预览。个性化匹配理由、联系角度和保存能力需要登录后使用。

• Enhancement of secondary ion yield on gas cluster ion beam-secondary ion mass spectrometry with nonaromatic matrices: Dependence on matrix species and molecular weight2025 · JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 43 ( 2 ) 2025年3月
• Molecular weight dependence of molecular damage to polyethylene glycol (PEG) molecules by sputtering with Ar gas cluster ion beam2025 · JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 43 ( 4 ) 2025年7月
• Imaging Mass Spectrometry of Low-molecular-weight Compounds in Skin Tissue with TOF-SIMS2021 · BUNSEKI KAGAKU 70 ( 4-5 ) 271 - 276 2021年 [査読有り]
• Study on the fundamental predominance in shave-off depth profiling

• 微小材料解析のためのshave－off 深さ方向分析法の高精度化に関する研究
• 界面分析のためのスパッタ二次粒子大気圧化学イオン化質量分析法の開発

• 官方个人主页