Chiba Institute of Technology · Faculty of Engineering · 准教授

This is a public-data preview. Personalized fit, contact angles, and saved workflows require sign-in.

• ゲート駆動電圧に依存したSiC MOSFETのスイッチング損失低減効果および特性変動の実験検証
• Operational Verification of Gate Drive Circuit With Condition Monitoring Function for Gate Oxide Degradation of SiC MOSFETs
• Accelerated aging for gate oxide of SiC MOSFETs under continuous switching conditions by applying advanced HTGB test
• スイッチング損失とサージ電圧の低減に着目したゲート駆動回路実装

• パワーエレクトロニクス機器の高信頼化のための電流経路可視化による状態監視システムの開発
• パワー半導体デバイスにおける最大定格値の最適化
• パワーデバイスの状態監視による劣化寿命予測に基づく電力変換回路の高信頼化に関する研究
• パワー半導体デバイスの寿命と性能を最大限活かせる駆動回路設計手法の確立

• Official profile