Ehime University · Graduate School of Science and Engineering

Research keywordsバウンダリスキャンテスト・チップレットテスト・BIST・論理回路テストポイント選択・深層強化学習テスト生成・グラフニューラルネットワーク・縮退故障診断・遷移故障診断・オンチップテスト生成

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