Kyoto University · Graduate School of Informatics · 教授

Research keywordsVLSI設計・IC外れ値検出・オンウェハ電気試験・SiC MOSFET・ハードウェアESN・トランジスタばらつき・NBTI劣化・ランダムテレグラフノイズ・電源網解析・LSI電磁放射低減

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• Test Accuracy Improvement of Ensemble Gaussian Process-based IC Outlier Detection Using Temporal Similarity Among Wafers2025 · 2025 IEEE 37th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS),
• (Invited) Redefining Outliers for On-Wafer Electrical Testing2024 · Proceedings of the 2024 ACM/IEEE International Symposium on Machine Learning for CAD,
• Dominant Model Parameter Extraction for Analyzing Current Imbalance in Parallel Connected SiC MOSFETs2021 · 2021 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE),
• LSTA2017 · Proceedings of the 54th Annual Design Automation Conference 2017,

• スケーラブル・シリコンリザバーコンピューティング
• DNA記憶装置による高機能演算の実現
• 耐量子計算機性秘匿計算に基づくセキュア情報処理基盤
• スケーラブルな高集積量子誤り訂正システムの開発

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