Osaka Institute of Technology · Faculty of Intellectual Property / Graduate School of Intellectual Property

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• 電子デバイスに対するESD過渡電磁界に対する影響評価（第６章 静電気と知的財産:村川担当）2023 · 電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響評価調査専門委員会（第６章村川担当） ( 共著 担当範囲:第６章（ESDの特許技術に関する分析） )
• 積分操作を用いた線形予測法（LPC）による正規化電力スペクトラム解析方法K.MURAKAWA, H.ITO, M.MASUGI, H.KIJIMA ( 共著 )
• 雷防護素子による電力搬送通信品質の劣化K.Takato, H.Kijima, K.Murakawa, H.Iwao ( 共著 )
• 補助電極を用いない共振回路技術による接地抵抗計の開発Kazuo Murakawa, Hitoshi Kijima

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