Osaka Institute of Technology · Faculty of Information Science

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• CFET SRAMにおけるソフトエラー現象のシミュレーション解析2025 · ファネスフィルベルトシエラ，王思達，鎌倉良成 ( 共著 )
• 生成AIによる画像分析を活用した農場遠隔監視システムの実装と評価2024 · 向井 朔也，川瀬 潤，水谷 皓介，久田 光一，鎌倉 良成 ( 共著 )
• CFET SRAMにおけるシングルイベント効果のシミュレーション解析2024 · 王 思達，鎌倉 良成 ( 共著 )
• IoTカメラ画像のAI分析精度および端末消費エネルギーの解析2024 · 向井 朔也，川瀬 潤，水谷 皓介，久田 光一，鎌倉 良成 ( 共著 )

• 特性ゆらぎの統計的性質を考慮したReRAM回路シミュレーションモデルの開発2021 · 研究期間：2021年04月 - 2025年03月
• ミューオン起因ソフトエラー評価基盤技術：実測とシミュレーションに基づく将来予測2019 · 日本学術振興会 科研費基盤研究(S)
• モンテカルロ法によるシングルフォトンアバランシェダイオードの解析2017 · 日本学術振興会 科研費基盤研究(C)
• プレーナ型スケーラブル熱電発電機構の実証と展開2015 · 科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業

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