Osaka University · Faculty of Engineering / Graduate School of Engineering · 助教

Research keywordsGaN surface traps・SiC contacts・MOS structures・deep-level transient spectroscopy・semiconductor defects

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• Deep-level-transient-spectroscopy study on electron traps near GaN surface generated by sputter deposition of SiO22026 · Japanese Journal of Applied Physics Vol. 65 No. 7 2026年4月17日 研究論文（学術雑誌）
• Hydrogen passivation of electron traps and fixed charges in SiO2/β-Ga2O3(001) MOS structures2025 · Applied Physics Letters Vol. 127 No. 11 2025年9月15日 研究論文（学術雑誌）
• Formation of high-quality SiO2/β-Ga2O3(001) MOS structures: The role of post-deposition annealing2025 · Applied Physics Letters Vol. 126 No. 1 2025年1月6日 研究論文（学術雑誌）
• Strain-Relaxed Growth of GeSn Thin Films via Nanochannel Sputter Epitaxy2025 · ECS Meeting Abstracts 2025年11月24日 研究論文（学術雑誌）

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