The Graduate University for Advanced Studies, SOKENDAI · Institute of Materials Structure Science

Research keywordsSOI pixel detectors・high-speed data acquisition・X-ray imaging・phase retrieval・schlieren microscopy・residual stress measurement・SiTCP-XG readout・10GbE readout

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• 出版年: 20262026 · 論文一覧（最新5件）
• X-ray residual stress measurement under non-ideal conditions using silicon-on-insulator pixel detectors DOI: 10.1016/j.nima.2025.170856 出版年: 2026 ジャーナル名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment URL: https://researchmap.jp/ryunishi/published_papers/506429552025 · 論文一覧（最新5件）
• 出版年: 20252025 · 論文一覧（最新5件）
• Development of a new phase-retrieval algorithm from a single-shot image for X-ray schlieren microscopy DOI: 10.1016/j.optcom.2025.132283 出版年: 2025 ジャーナル名: Optics Communications URL: https://researchmap.jp/ryunishi/published_papers/508313022025 · 論文一覧（最新5件）

• 10Gb Ethernet転送データ収集システムによる高速X線イメージャ開発 2021-2024 キーワード: X線イメージング, 半導体検出器, SOIPIX, 二次元検出器, DAQ, 検出器, データ収集システム, 10Gb Ethernet URL: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21K14174/2021 · 研究課題一覧（最新5件）
• キーワード: X線イメージング, 半導体検出器, SOIPIX, 二次元検出器, DAQ, 検出器, データ収集システム, 10Gb Ethernet研究課題一覧（最新5件）
• 10Gb Ethernet転送データ収集システムによる高速X線イメージャ開発研究課題一覧（最新5件）

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