Tohoku University · Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials · 教授

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• Development of a Soft X-Ray Diffractometer for a Wideband Multilayer Grating with a Novel Layer Structure in the 2-4 keV RangeTakashi Imazono, Masato Koike, Tetsuya Kawachi, Noboru Hasegawa, Masaru Koeda, Tetsuya Nagano, Hiroyuki Sasai, Yuki Oue, Zeno Yonezawa, Satoshi Kuramoto, Masami Terauchi, Hideyuki Takahashi, Nobuo Handa, Takanori Murano
• Postsynthesis of h-BN/Graphene Heterostructures Inside a STEMZheng Liu, Luiz H. G. Tizei, Yohei Sato, Yung-Chang Lin, Chao-Hui Yeh, Po-Wen Chiu, Masami Terauchi, Sumio Iijima, Kazu Suenaga
• ZnO films grown on Si substrates with au nanocrystallites as nucleiXia Feng, Junyong Kang, Wataru Inami, Xiaoli Yuan, Masami Terauchi, Takashi Sekiguchi, Shin Tsunekawa, Shun Ito, Toshio Sakurai
• Construction of a SXES spectrometer for a conventional SEMM.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M. Koike, T.Kawachi, T.Imazono, N.Hasegawa, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa, S.Kuramoto

• 透過型高分解能エネルギー損失分光による高温超伝導体の電子構造の研究田中 通義, 津田 健治, 寺内 正己
• コヒーレント収束電子回折による強誘電ドメイン壁の精密構造解析津田 健治, 寺内 正己, 西松 毅
• コヒーレント収束電子回折による結晶構造因子の位相決定法の開発田中 通義, 細川 史生, 津田 健治, 寺内 正巳
• ナノメーター領域の精密構造解析法の開発とその基礎的応用田中 通義, 齋藤 晃, 津田 健治, 寺内 正己

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