Tokushima University · Graduate School of Sciences and Technology for Innovation · 教授

Research keywordsテスト生成・ディペンダブルコンピューティング・testing・VLSIの設計とテスト・集積回路・論理回路・計算機工学・LSIテスト・Logic circuits・検査

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• Stand-by mode test method of interconnects between dies in 3d ICs with IEEE 1149.1 test circuits
• ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
• Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes
• Open defect detection with a built-in test circuit by IDDT appearance time in CMOS ICs

• LSIの電流テストに関する研究
• 3次元積層チップ間接続の異常遅延検出のための検査容易化回路設計手法の開発
• ＩＣチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究
• 論理回路の検査容易化設計

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