Tokushima University · Unclassified · 助教

Research keywordsLSIテスト, VLSIの設計とテスト, 温度センサ, FPGA, ディペンダブルコンピューティング・電気電子・機械・材料工学

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• On Correction of A Delay Value Using Ring-Oscillators for Aging Detection and Prediction
• A Selection Method of Ring Oscillators for An On-chip Digital Temperature and Voltage Sensor
• On-chip Temperature and Voltage Measurement for Field Testing
• Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations

• VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究
• 小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発
• フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

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