APPLICATION
教授匹配
Public Professor Archive
名古屋大学 · 未来材料・システム研究所
名古屋大学 · 未来材料・システム研究所
研究关键词silicon carbide defects・4H-SiC・stacking faults・threading dislocations・ion implantation・SiC crystal growth・birefringence imaging・power semiconductor reliability
以下为公开数据预览。个性化匹配理由、联系角度和保存能力需要登录后使用。