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Public Professor Archive
東京都立大学 · システムデザイン研究科/システムデザイン学部 · 教授
東京都立大学 · システムデザイン研究科/システムデザイン学部 · 教授
研究关键词binary neural networks・recognition accuracy・FPGA testing・process variation measurement・MOSFET aging・delay measurement・soft error tolerance・hardware reliability
研究领域情報学・情報科学・社会システム工学・総合・新領域系・総合系・総合領域・複合領域・計算基盤
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